賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series

更新時(shí)間：2024-11-06

產(chǎn)品型號(hào)：X-eye SF160F/N Series

簡要描述：賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實(shí)現(xiàn)3次元（3D）影像中進(jìn)行正確的分析出不良的種類，位置及大小。

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    賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/NSeries簡介：

    1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM：

    搭載高性能Micro-focusOpenTube(160kV)的高性能檢測設(shè)備，實(shí)現(xiàn)高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外，用戶可通過需求選擇DualCT功能(ObliqueCT,Cone-beamCT)實(shí)現(xiàn)3次元（3D）影像中進(jìn)行正確的分析出不良的種類，位置及大小。

    2.X-raySimple&Easy3DCT：

    1).半導(dǎo)體，電子產(chǎn)品，封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測設(shè)備（大型PCB可進(jìn)行非破壞性CT分析）

    2).可搭載Option自動(dòng)檢測S/W，通過手動(dòng)裝料后的自動(dòng)檢測，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢

    3).最大可實(shí)現(xiàn)550x650mm尺寸的產(chǎn)品不良檢測

    4).通過DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D檢測，提供高分辨率，高精度的分析檢測環(huán)境

    5).可搭載長壽命Filament，利于用戶使用便利性（可適用于量產(chǎn)檢測）

賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/NSeries等，歡迎咨詢上海賽可，我們?yōu)槟峁┵惪桑⊿EC）X-RAY檢測設(shè)備的參數(shù)、價(jià)格、型號(hào)、原理等信息，賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/NSeries產(chǎn)地為韓國、品牌為賽可，歡迎大家咨詢。

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